?GT-BGA-2001高速BGA測試插座Ironwood
發布時間:2025-09-15 16:37:07 瀏覽:24
GT-BGA-2001是Ironwood Electronics旗下GT Elastomer系列的高速BGA測試插座,采用彈性體互連技術,具備高可靠性、低信號損耗(94GHz時僅1dB)及超長機械壽命(超20萬次插拔),專為高頻場景下BGA封裝器件的驗證測試、性能評估及老化實驗設計,可穩定支持高速數字信號(如PCIe 5.0)與高頻模擬信號傳輸。
技術參數
封裝類型:BGA,支持 0.15 mm 及以上 Pitch
引腳數量:189
節距(Pitch):1.0 mm
IC 尺寸:18 mm × 18 mm(最大)
陣列尺寸:17 × 17
插拔方式:旋轉式頂蓋,便于芯片快速更換
接觸電阻:<30 mΩ
單針電流承載能力:5 A
工作溫度范圍:-55°C 至 +160°C
插拔壽命:1000~2000 次
高頻性能:帶寬高達 94 GHz,插入損耗低(75 GHz 時 ≤ -1 dB)
電氣性能:
自感:0.04–0.06 nH
互感:0.003–0.024 nH
互容:0.006–0.012 pF
安裝方式:無需焊接,直接壓接在 PCB 上,需預開連接孔
推薦工具:需配合 Ironwood 扭矩工具使用,以確保垂直壓縮力并延長彈性體壽命
技術特性
彈性體互連技術:采用GT接觸技術,通過銀粒子彈性體實現低信號損耗(94GHz時僅1dB),支持高頻信號傳輸。
彈性體溫度范圍:-55℃至+160℃,適應極端環境。
高機械耐久性:支持超過200,000次插拔循環,滿足ATE(自動測試設備)等高循環壽命應用需求。
信號完整性優化:接觸電阻小于30毫歐,確保信號傳輸穩定性。
寄生電感低,減少高頻信號干擾。
應用場景
高頻測試與驗證
l 適用于5G通信、機載雷達等需要高帶寬、低信號損耗的場景。
l 支持PCIe 5.0(32GT/s)、USB4等高速接口測試,誤碼率(BER)低于10?12。
復雜電源設計
l 當PCB背面有密集器件時,定制絕緣板可避免空間沖突和電氣干擾。
l 兼容高功率器件測試,如汽車電子、工業控制等領域。
高性能計算與通信設備
l 用于服務器CPU、5G基站、車載域控制器等設備的測試與驗證。
l 支持高溫老化穩定性測試,確保長期可靠性。
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